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XPS , SIMS, ultra-thin film (SiON 1nm) Depth Profiling, ion sputtering, MEMS devices' reliability, Raman spectroscopy, 3D Tomography, STEM, TEM, EELS °ü·Ã ½Å±â¼ú °³¹ß |
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[»ý»ê°ü¸®¡¤°øÁ¤°ü¸®¡¤Ç°Áú][±â¼ú¡¤¿¬±¸°³¹ß¡¤R&D][Àü±â¡¤ÀüÀÚ¡¤Á¦¾î][ÈÇС¤¿¡³ÊÁö¡¤È¯°æ] [ÄÄÇ»ÅÍ¡¤Çϵå¿þ¾î¡¤Àåºñ][±Ý¼Ó¡¤Àç·á¡¤¿ä¾÷] |
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ÇØ´çºÐ¾ßÀÇ ±â¼ú Æ÷Æ®Æú¸®¿À¸¦ Á¦½ÃÇϰí, ±â¼ú°æ·Â ³»¿ëÀ» ¼³¸íÇÏ°í ±â¼úÀü°³, Á¦Ç°È ¹æ½ÄÀ» ³íÀÇÇÔ |
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¹Ú»çÇÐÀ§ÈÄ ÇØ´ç ºÐ¾ß 5~10³â ¼öÁØ °æ·ÂÀÚ KAIST, SNU, MIT, Stanford, Caltech µî ¿ì¼ö´ëÇÐ ¹Ú»ç¿ì´ë, °ü·ÃÇаú Àü°øÀÚ ÇÁ¸®Á¨Å×ÀÌ¼Ç ´É¼÷ÀÚ |
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Ph. D. °æ·ÂÀÚ °æ¿ì ºÒÇÊ¿ä/ ¼®»çÀÇ °æ¿ì´Â TOEIC(620 ÀÌ»ó) TEPS( 520 ÀÌ»ó) TOEFL(CBT, 170 ÀÌ»ó) G-TELP(LEVEL2, 52 ÀÌ»ó) Á¦Ãâ¿ä¸Á |
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2010-01-04 ~ ä¿ë½Ã¸¶°¨ |
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Headhunter |
±èâȣ ¹Ú»ç (Dr. Lector R. C. H. Kim, Ph.D. ENSIACET-INPT, M.Sc. KAIST) | |
Phone |
office: 070-7829-2449 mobile: 010-2943-3884 |
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Fax |
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